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新款快走絲-檢測物質的元素-仁光智能
欄目:快走絲資訊 發布時間:2020-07-29 作者: 仁光小陳 來源: 網絡 瀏覽量: 341
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新款快走絲,應用方向:XRF用的是物理原理來檢測物質的元素,可進行定性和定量分析。即通過X射線穿透原子內部電子,由外層電子補給產生特征X射線,根據元素特征X射線的強度

新款快走絲,應用方向:XRF用的是物理原理來檢測物質的元素,可進行定性和定量分析。即通過X射線穿透原子內部電子,由外層電子補給產生特征X射線,根據元素特征X射線的強度,即可獲得各元素的含量信息。這就是X射線熒光分析的基本原理。它可以得到元素含量及其對應氧化物的含量。

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新款快走絲,XRF和ICP常用作成分的定量分析,其中XRF用物理方法檢測而ICP用化學方法進行測試。相對XRF,ICP的檢測范圍更寬,檢測極限更低,檢測出的數據更準確。EDS和WDS常用作電鏡的附件進行成分分析,但多作為半定量分析,僅可以看出各個元素的比值和大概分布情況及含量,準確性不如XRF和ICP。

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新款快走絲,輝光放電GD測試,簡介:輝光放電是種低氣壓放電(Low pressure discharge)現象,工作壓力一般都低于10 mbar,其基本構造是在封閉的容器內放置兩個平行的電極板,利用產生的電子將中性原子或分子激發,而被激發的粒子由激發態降回基態時會以光的形式釋放出能量。

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